透射电镜

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仪器名称：场发射透射电子显微镜(Tecnai G2 F20, FEI)

仪器简介：

该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能获取TEM形貌像、高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析，同时STEM结合EDX点、线、面扫描可以进行微区能谱分析，主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究。主要的应用范围包括除磁性材料之外的无机材料的微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构等方面的分析，不适用于有机和生物材料。

测试内容：

形貌观察、高分辨、TEM暗场、HRTEM+SAED、 Mapping

收费标准：

形貌观察: 280元/样品

高分辨: 200元/样品（随形貌）

选区衍射：100元/样（随形貌）

EDS（点扫）：150元/样（随形貌）

EDS（线扫）：220元/样（随形貌）

EDS（Mapping）：400元/样（随形貌）

分析样例：